微米级缺陷也能抓：CIS 在锂电、半导体、纺织上的实测表现

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CIS 可捕捉微米级缺陷，锂电、半导体、纺织三大行业实测表现汇总

CIS 接触式图像传感器凭借近距离成像、无畸变、宽幅无需拼接的特点…

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2026年11月11日
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